?“C3測試”（也稱為“C3試驗”），它是一種環(huán)境試驗，用于測試電子設(shè)備或器件在惡劣的氣候條件下的耐受能力。C3測試通常包括以下環(huán)境因素：

1. 恒定溫度（25℃±2℃）
2. 恒定濕度（55%±5% 相對濕度）
3. 電壓干擾
4. 頻率變化
5. 電壓波動
6. 瞬變脈沖
7. 瞬間停電

8. 瞬間電壓降低

這些測試旨在模擬現(xiàn)實環(huán)境中的電磁干擾和其他可能影響設(shè)備性能和穩(wěn)定性的因素，以確保設(shè)備在實際使用中能夠正常運行。C3測試通常由電子設(shè)備制造商、測試實驗室或認(rèn)證機構(gòu)進行。